फोटोवोल्टिक मॉड्यूल ईएल डिटेक्टर
अंग्रेजी में ईएल का पूरा नाम इलेक्ट्रो ल्यूमिनेसेंस है, जो इलेक्ट्रोल्यूमिनेसेंस है, या इसे इलेक्ट्रोल्यूमिनेसेंस डिटेक्शन कहा जा सकता है। क्रिस्टलीय सिलिकॉन के इलेक्ट्रोल्यूमिनेसेंस सिद्धांत का उपयोग करके, क्रिस्टलीय सिलिकॉन की लगभग अवरक्त छवियों को कैप्चर करने के लिए एक उच्च-रिज़ॉल्यूशन इन्फ्रारेड कैमरे के साथ, छवि सॉफ्टवेयर का उपयोग सौर कोशिकाओं, फोटोवोल्टिक मॉड्यूल आदि में दोषों को निर्धारित करने के लिए अधिग्रहीत इमेजिंग छवियों का विश्लेषण और प्रक्रिया करने के लिए किया जाता है।
वर्तमान में, ईएल निरीक्षण फोटोवोल्टिक उद्योग में लागू किया जाता है, जैसे फोटोवोल्टिक मॉड्यूल का दोष निरीक्षण, सौर कोशिकाओं का आंतरिक दोष निरीक्षण, और सिलिकॉन चिप क्रैक निरीक्षण। पोर्टेबल ईएल डिटेक्टरों का उपयोग फोटोवोल्टिक मॉड्यूल और फोटोवोल्टिक पावर स्टेशनों में किया जाता है, जो विभिन्न स्थानों में विभिन्न वातावरण और अनुप्रयोगों के अनुकूल हो सकते हैं, और फोटोवोल्टिक मॉड्यूल के कारण आंतरिक दोषों की तेजी से पहचान और निर्णय की सुविधा प्रदान कर सकते हैं।
सौर कोशिकाओं के उत्पादन में, ईएल डिटेक्टर को सौर सेल स्प्लिटर पर लागू किया जा सकता है ताकि आंतरिक दोषों की पहचान की जा सके, जिन्हें मशीन विजन सिस्टम द्वारा आसानी से पहचाना नहीं जाता है, जैसे ब्लैक कोर, डार्क स्पॉट, टूटे ग्रिड, छिपी हुई दरारें और मलबे। कोशिकाओं और सिलिकॉन वेफर्स की छंटाई में, साधारण दोषों और रंगों की पहचान की जा सकती है और मशीन दृष्टि प्रणाली द्वारा न्याय किया जा सकता है, लेकिन कुछ आंतरिक दोषों को सिस्टम द्वारा पहचानना या याद करना मुश्किल होता है, जिससे छंटाई उपकरण कम दक्षता का गलत निर्णय होता है या छूट जाता है। वर्तमान ईएल परीक्षक प्रौद्योगिकी सकारात्मक और नकारात्मक दोषों, रंगों और कोशिका के आंतरिक दोषों की पहचान और छंटाई का एहसास कर सकती है। डिटेक्शन स्पीड इसी अंतरराष्ट्रीय स्तर पर पहुंच गई है और डिटेक्शन एफिशिएंसी में काफी सुधार हुआ है ।