ऑपरेशन के दौरान फोटोवोल्टिक प्रणाली का नुकसान

काम के दौरान फोटोवोल्टिक प्रणाली में कम या ज्यादा नुकसान होते हैं, जिनमें से कई लिंक हैं जो फोटोवोल्टिक बिजली संयंत्रों के बिजली उत्पादन के नुकसान का कारण बनते हैं।
1. मिसमैच लॉस: स्ट्रिंग्स के अलग-अलग घटकों और अलग-अलग स्ट्रिंग्स के बीच आउटपुट बेमेल के कारण स्ट्रिंग्स और फोटोवोल्टिक सरणियों का नुकसान।
2. इन्वर्टर नुकसान: इन्वर्टर से संबंधित नुकसान में इन्वर्टर की हानि, डीसी से एसी में रूपांतरण में एमपीपीटी ट्रैकिंग के कारण होने वाली हानि और इन्वर्टर की हानि में मुख्य रूप से शामिल हैं: इन्वर्टर की दक्षता, अधिभार हानि, और पावर थ्रेशोल्ड लॉस, ओवरवॉल्टेज लॉस, वोल्टेज थ्रेशोल्ड लॉस।
3. केबल हानि: केबल हानि मुख्य रूप से वोल्टेज ड्रॉप के कारण ओमिक हानि के कारण होती है, जिसे परियोजना में केबलों के वास्तविक उपयोग के आधार पर निर्धारित करने की आवश्यकता होती है। केबल नुकसान में मुख्य रूप से AC और OCX केबल नुकसान शामिल हैं। एसी केबल लॉस: एसी आउटपुट और ट्रांसफॉर्मर कनेक्शन बिंदु के बीच होने वाले नुकसान को संदर्भित करता है। डीसी केबल लॉस: फोटोवोल्टिक सरणी, कॉम्बिनर बॉक्स के आउटपुट एंड और इन्वर्टर के डीसी इनपुट एंड के कारण होने वाले नुकसान को संदर्भित करता है।