प्रचालन में फोटोवोल्टिक प्रणाली का नुकसान

ऑपरेशन के दौरान फोटोवोल्टिक सिस्टम में कम या ज्यादा नुकसान होगा। उनमें से कई लिंक हैं जो फोटोवोल्टिक बिजली संयंत्रों के बिजली उत्पादन के नुकसान का कारण बनते हैं। 1. बेमेल हानि: स्ट्रिंग के अलग-अलग घटकों और विभिन्न स्ट्रिंग्स के बीच आउटपुट अंतर के कारण स्ट्रिंग्स और फोटोवोल्टिक सरणियों का अलग-अलग आउटपुट होता है। मिलान के कारण हानि 2. इन्वर्टर हानि: इन्वर्टर से संबंधित नुकसान में इन्वर्टर का अपना नुकसान, एसी में डीसी रूपांतरण में एमपीपीटी ट्रैकिंग के कारण होने वाली हानि, और इन्वर्टर के स्वयं के नुकसान में मुख्य रूप से शामिल हैं: इन्वर्टर दक्षता, अधिभार हानि, पावर थ्रेशोल्ड लॉस, ओवरवॉल्टेज लॉस, वोल्टेज थ्रेशोल्ड हानि। 3. केबल हानि: केबल का नुकसान मुख्य रूप से वोल्टेज ड्रॉप के कारण होने वाले ओमिक नुकसान के कारण होता है, जिसे परियोजना में केबल के वास्तविक उपयोग के आधार पर निर्धारित करने की आवश्यकता होती है। केबल नुकसान में मुख्य रूप से एसी और ओसीएक्स केबल नुकसान शामिल हैं। एसी केबल नुकसान: ट्रांसफार्मर डीसी केबल नुकसान के कनेक्शन बिंदु पर एसी आउटपुट के कारण होने वाले नुकसान को संदर्भित करता है: फोटोवोल्टिक सरणी के कारण होने वाले नुकसान को संदर्भित करता है, इन्वर्टर के डीसी इनपुट अंत में कॉम्बिनर बॉक्स का आउटपुट अंत।