फोटोवोल्टिक: मॉड्यूल दरारें, हॉट स्पॉट और पीआईडी प्रभाव तीन महत्वपूर्ण कारक हैं जो क्रिस्टलीय सिलिकॉन फोटोवोल्टिक मॉड्यूल के प्रदर्शन को प्रभावित करते हैं। आज, मैं आपको कोशिका दरारों के कारण, उन्हें कैसे पहचानें और कैसे रोकें, इसके बारे में बताऊंगा।
1. फोटोवोल्टिक मॉड्यूल में दरारों का निर्माण और वर्गीकरण
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
बाहरी बल: वेल्डिंग, लेमिनेशन, फ्रेमिंग या हैंडलिंग, परीक्षण आदि के दौरान बाहरी बल से बैटरी प्रभावित होगी। जब पैरामीटर अनुचित तरीके से सेट किए जाते हैं, तो उपकरण की विफलता या अनुचित संचालन से दरारें पैदा होंगी।
उच्च तापमान: सेल कम तापमान पर पहले से गरम नहीं होता है, और फिर अचानक थोड़े समय में उच्च तापमान का सामना करता है और फिर फैलता है, जिससे अत्यधिक वेल्डिंग तापमान, टुकड़े टुकड़े तापमान की अनुचित सेटिंग और अन्य पैरामीटर जैसे दरारें पैदा हो जाएंगी।
कच्चा माल: कच्चे माल में दोष भी दरार के प्रमुख कारकों में से एक है।
सेल दरार के आकार के अनुसार, इसे मोटे तौर पर 5 प्रकारों में विभाजित किया जा सकता है: पेड़ की दरार, व्यापक दरार, तिरछी दरार, बसबार के समानांतर, ग्रिड के लंबवत और दरारें जो पूरे सेल में प्रवेश करती हैं।
2. The impact of "cracking" on component performance
क्रिस्टलीय सिलिकॉन सौर कोशिकाओं द्वारा उत्पन्न धारा मुख्य रूप से बसबार लाइनों और पतली ग्रिडलाइनों द्वारा एकत्र और निर्यात की जाती है जिनकी सतह एक दूसरे के लंबवत होती है। इसलिए, जब दरारें (ज्यादातर बसबार के समानांतर दरारें) पतली ग्रिडलाइन को तोड़ने का कारण बनती हैं, तो करंट को प्रभावी ढंग से बसबारों तक नहीं पहुंचाया जाएगा, जिसके परिणामस्वरूप आंशिक या सेल की विफलता भी हो सकती है, और मलबे, हॉट स्पॉट आदि का कारण भी हो सकता है। ।, एक ही समय में घटकों की शक्ति क्षीणन का कारण बनता है।
Third, the method of identifying "cracks"
EL (Electroluminescence, Electroluminescence) सौर कोशिकाओं या घटकों का एक प्रकार का आंतरिक दोष का पता लगाने वाला उपकरण है, जो दरारों का पता लगाने का एक सरल और प्रभावी तरीका है। क्रिस्टलीय सिलिकॉन के इलेक्ट्रोल्यूमिनेसेंस सिद्धांत का उपयोग करते हुए, घटक के दोषों को प्राप्त करने और निर्धारित करने के लिए घटक की निकट-अवरक्त छवि को एक उच्च-रिज़ॉल्यूशन इन्फ्रारेड कैमरा द्वारा कैप्चर किया जाता है। इसमें उच्च संवेदनशीलता, तेजी से पता लगाने की गति और सहज परिणामों के फायदे हैं। नीचे दी गई तस्वीर ईएल का परीक्षा परिणाम है, जो स्पष्ट रूप से विभिन्न दोषों और दरारों को दर्शाता है।
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
पांच, फोटोवोल्टिक मॉड्यूल में दरार को रोकने के मुख्य बिंदु
In the production process and subsequent storage, transportation, and installation, avoid improper external force intervention on the battery cells, and also pay attention to the temperature change range of the storage environment.
与此原文有关的更多信息要查看其他翻译信息,您必须输入相应原文